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说明德国P+F光栅,倍加福NEB3-8GM45-E2

更新时间:2022-11-18   浏览数:21

所属行业:办公> 光学仪器(办公、文教)> 光栅

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  说明德国P+F光栅,倍加福NEB3-8GM45-E2

  上海乾拓贸易有限公司

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  监测包装机械上的透明箔膜

  In accord with EN81-70 and EN12015/16,

  以及由它们发射的一组平行的红外对射光线。

  Object detection up to distance of zero, Housing:

  检测货盘高度以及外周轮廓。

  P+F的光栅可以检测小型物件,

  Low-profile, high resolution light grid for monitoring locking edges

  卷筒纸断裂检测

  传送带上的货盘外型与高度检测,用于物流行业

  光栅常被用于监测2维的大面积区域。

  高分辨率的PR和LG系列产品能够稳定地检测非常小的,甚至是透明的物体。

  光栅通常包括一个发射单元与接受单元,

  电梯门控制

  但我们的产品还是很多有特点的。

  Thru-beam light grid with integrated controller,

  比如:巨大的光线发散角度,

  on elevators and accesses,

说明德国P+F光栅,倍加福NEB3-8GM45-E2

  自动校准确保了产品在恶劣环境下的正常使用。

  检测高度可达600mm,长度可达3056mm。

  重要的应用:

  使得产品很容易“对准”,“学习”功能加快了调试的速度,

  aluminum, Operating voltage: 11 ... 30 V DC,

  互相交叉的光线增加了分辨率,

  小物件检测

  Dense monitoring field with up to 135

  beams ensures that small objects are detected,

  PLVScan光栅则常被用于物流行业,

  尽管表面上看它的工作原理简单,

  Connection: M8 x 1 connector, 4-pin

  说明德国P+F光栅,倍加福NEB3-8GM45-E2

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