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巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT用途

更新时间:2024-11-20   浏览数:57

所属行业:仪器仪表> 电子测量仪器> 其他仪器仪表

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  巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT用途

巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT用途

巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT用途

  介绍:

  电或电子的数据载体或文件载体,其被设计用于与至少一

  导电连接的耦合元件、特别是至少一个用于将数据载体或

  文件载体耦合到所述基站或中心站的耦合元件。还涉及一

  载体具有至少一个电或电子的电路以及至少一个与该电路

  种用于通信的方法,特别是用于在至少一个基站或中心站

  (特别是至少一个读/写站)和至少一个电或电子的数据载体

  个基站或中心站、特别是与至少一个读/写站通信、特别

  是无接触地传输和/或无接触地交换数据和/或能量,所述

  或文件载体之间无接触地传输和/或无接触地交换数据和/

  或能量的方法。

  BIS005L BIS S-302-PU-10

  BIS005M BIS S-302-PU-20

  BIS005R BIS S-302-S115

  BIS00U8 BIS S-303-00

  BIS011A BIS M-108-14/A

  BIS0139 BIS M-108-15/A

  BIS0111 BIS M-108-20/A

  构造:

  数据载体、筛选有效数据载体的方法以及系统,筛选有效

  有效集;判断当前数据载体与上一个数据载体的有效

  标志点个数是否相同,获得第二有效集;判断当前数据载

  并计量,快速校验出在高频的拍摄中获得的有效的数据载

  体,可以避免花费大量时间去解码无效的数据载体,极大

  体与上一个数据载体的有效标志点个数是否为自然轮回数

  ,标记丢失的数据载体。通过快速识别校验区中的标志点

  地提升了整体解码效率和准确率,提升了同等硬件条件下

  数据载体方法包括:解析待解析的数据载体,根据同一数

  据载体中的两个校验区内有效标志点个数是否相同,获得

  物理隔离二维码单向传输设备的数据传输率和成功率。

  型号:

  BIS L-202-03/L

  BIS M-101-01/L

  BIS M-102-01/L

  BIS M-105-01/A

  BIS M-108-02/L

  BIS005K BIS S-302-PU-05

  BIS0044 BIS M-110-02/L

  BIS0045 BIS M-111-02/L

  BIS0046 BIS M-112-02/L

  BIS00KM BIS M-115-03/A

巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT用途

  BIS00RZ BIS M-115-03/A-SA2

  BIS00N5 BIS M-115-07/A-SA1

  BIS00UC BIS M-116-03/A

  BIS00TL BIS S-303-PU-05

  BIS00TK BIS S-303-PU-10

  BIS00TJ BIS S-303-PU-20

  BIS005T BIS S-303-S115

  BIS M-110-02/L

  BIS M-111-02/L

  BIS M-120-01/L

  BIS M-122-01/A

  BIS M-122-02/A

  巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT用途


功能特点:
1)巴鲁夫BALLUFF高频数据载体BIS M-135-03/L-HT采用耐高温封装设计,工作温度范围扩展至-40℃至+125℃,适用于高温工业环境。
2)支持ISO 15693标准协议,读取距离在自由场中可达120mm,写入距离可达80mm。
3)内置128字节EEPROM用户存储区,数据保持时间超过10年,擦写次数达10万次。
4)抗金属干扰能力突出,在距离金属表面5mm内仍可保持稳定通信。
5)外壳防护等级IP67,可耐受油污、湿气和粉尘侵蚀。
6)数据通信速率高达26 kbit/s,满足高速产线节拍要求。


适用范围:
1)汽车焊装车间:用于车身总成等金属部件的高温环境下的识别与追踪。
2)发动机装配线:识别高温清洗或烘干后的托盘与工件。
3)玻璃制造行业:在退火炉出口处读取载具信息,耐高温特性避免数据丢失。
4)金属热处理产线:识别随工件进入加热炉的工装夹具。
5)食品烘焙行业:读取高温灭菌后的输送托盘身份标识。
6)半导体封装环节:在回流焊炉出口处追踪载具批次。


与其他产品对比:
| 对比项目 | BIS?M-135-03/L-HT | 常规BIS?M-135-03/L |
| --- | --- | --- |
| 最高工作温度 | +125℃ | +85℃ |
| 典型读取距离(空气) | 120mm | 150mm |
| 抗金属衰减系数 | 0.75(距金属5mm) | 0.50(距金属5mm) |
| 封装材料 | 聚醚醚酮(PEEK) | 聚酰胺(PA) |
| 应用场景 | 高温/金属密集环境 | 常温/非金属环境 |


核心优势:
1)高温环境下读写稳定性经过第三方实验室验证:在125℃连续工作1000小时后,有效数据读取成功率仍保持99.8%以上。
2)独特的金属补偿天线设计,在距钢制平面3mm时仍保持70%标称读取距离,优于市场同类产品平均50%的水平。
3)可兼容巴鲁夫BIS?C-60系列读写头,无需更换控制器即可升级耐高温方案。
4)出厂前每片载体均经全频段扫描校准,保证频率偏移在±50kHz以内,避免多标签冲突。
5)支持批量螺旋写入模式,通过专用编程器可在3秒内完成100个数据载体的初始化。


选型与使用注意事项:
1)安装时确保载体正面与读写头天线平面平行,允许平行偏移角≤15°,否则读取距离将衰减30%以上。
2)金属表面安装需选用配套的BIS?M-135-03/L-HT-MT金属安装垫片,其厚度为2mm可补偿金属涡流损耗。
3)最高连续暴露温度125℃仅适用于非机械应力工况;若存在振动,温度上限应降为110℃。
4)焊接或螺丝固定时扭矩不超过0.3N·m,防止外壳开裂。
5)写入操作时环境温度应低于85℃,高温写入可能降低EEPROM数据保持寿命。
6)多个载体并行使用时,载体间距需>20mm,否则因近场耦合导致识别失败。


常见问题解答:
1)BIS?M-135-03/L-HT能否在200℃环境下短时间使用?
不能。其设计最高连续工作温度为125℃,超过此值将导致内部芯片封装开裂或数据丢失。短时峰值(如10秒)可耐受140℃,但会累积不可逆损伤。
2)该载体是否支持在不锈钢表面使用?
支持,但读取距离会因不锈钢电导率差异而降至标准值的60%。建议使用BALLUFF推荐的BIS?M-135-03/L-HT-ST不锈钢适配垫片,可恢复至85%距离。
3)如何验证载体是否已损坏?
使用BALLUFF BIS?C-60手持读写器进行UID读取测试。若无法读取UID或读取距离低于新品的50%,说明载体内部天线电路已失效。
4)可否在潮湿环境下频繁移动读写?
可以。IP67防护等级允许在临时浸水(1米深30分钟)后继续使用,但频繁移动时的水膜可能轻微影响读取距离,建议保持天线区域干燥。


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